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入驻第 3 年 | 主营:切割设备

硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表

武汉普赛斯硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器(含MPPC/SiPM)、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

产品单价
¥1000
(台)
现货供应
类别切割设备 产地湖北省 武汉市 规格PXIe-5180
购买数量:
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企 公司简介 武汉普赛斯仪表有限公司

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产品详情

参数与介绍
产品货号无 产品规格PXIe-5180
所在地湖北省 武汉市 品牌名称
有效期至长期有效 产品类别切割设备
PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,支持10V,500mA直流/脉冲输出,小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器(含MPPC/SiPM)、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。详询一八一四零六六三四七六

产品特性

8个独立的源测量通道,支持并行测试
蕞大支持±10V,±500mA输出
单通道蕞大3W输出/吸收功率,8通道蕞大支持24W
蕞大电流电压分辨率低10pA/100μV
支持脉冲输出,脉宽低100μs,占空比0~100%可调
蕞高支持1MS/s采样率,适合高速信号采集和动态测试
支持0.001~10 NPLC积分时间设置,兼顾高速及高精度测量
支持连续、sweep、序列等多种工作模式
支持8通道外同步触发,极性及占空比可调
支持2线、4线测量,具备Guard输出保护
支持标准SCPI指令集,提供完善的驱动及示例代码

应用范围
半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器、硅光器件特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试

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武汉普赛斯仪表有限公司陶女士

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选择武汉普赛斯的理由

普赛斯加入PXISA联盟,依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台,PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎,经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升级,确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统,包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡,并将持续研发投入,推出更多符合市场需求的功能模块板卡,在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。


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产品信息网址:http://coai.net/productdetail/4387.html

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