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武汉普赛斯硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器(含MPPC/SiPM)、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试
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| 产品货号 | 无 | 产品规格 | PXIe-5180 |
| 所在地 | 湖北省 武汉市 | 品牌名称 | |
| 有效期至 | 长期有效 | 产品类别 | 切割设备 |
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产品信息网址:http://coai.net/productdetail/4387.html