湖北省/武汉市 
| 产品货号：无 | 产品规格：PXIe5142 |
| 发货期限：自买家付款之日起 3 天内发货 | 所在地区：湖北省 武汉市 |
| 有效期至： 长期有效 | 品牌名称： |
MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式
能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出，小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。主要用于硅光晶圆、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试
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- 第2年
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- 陶女士 经理
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- 地区：
- 湖北省-武汉市-江夏区
- 地址：
- 武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园10栋5楼
产品参数
详情介绍
PXIe-5142是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出，小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。主要用于硅光晶圆、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。详询一八一四零六六三四七六
产品特点
四个完全独立的源测量通道，支持并行测试
支持±30V/±1A脉冲输出与测量
支持单通道3W输出/吸收功率
支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码
支持脉冲输出，脉宽低100μs，占空比0~100%可调
支持DIO外部同步触发接口，支持2/4线测量
支持连续、sweep、序列等多种工作模式
电流电压分辨率低10pA/100μV
半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试
产品选型
中商贸易网供应商武汉普赛斯仪表有限公司供应MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式，为您提供详细的产品报价、参数、图片等商品信息，如需进一步了解MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式，请与厂家直接联系，请在联系时说明是在中商贸易网看到这条商机的。
本产品信息网址：http://coai.net/productdetail/4440.html
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