MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式

能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出，小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。主要用于硅光晶圆、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

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类别切割设备产地湖北省武汉市规格PXIe5142

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企公司简介 武汉普赛斯仪表有限公司

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产品详情

参数与介绍

产品货号	无	产品规格	PXIe5142
所在地	湖北省武汉市	品牌名称
有效期至	长期有效	产品类别	切割设备

PXIe-5142是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出，小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。主要用于硅光晶圆、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。详询一八一四零六六三四七六

产品特点

四个完全独立的源测量通道，支持并行测试

支持±30V/±1A脉冲输出与测量

支持单通道3W输出/吸收功率

支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码

支持脉冲输出，脉宽低100μs，占空比0~100%可调

支持DIO外部同步触发接口，支持2/4线测量

支持连续、sweep、序列等多种工作模式

电流电压分辨率低10pA/100μV

应用范围

半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试

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