武汉普赛斯分立器件WAT多通道测试PXIe插卡式源表支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试
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| 产品货号 | 无 | 产品规格 | PXIe5142 |
| 所在地 | 湖北省 武汉市 | 品牌名称 | |
| 有效期至 | 长期有效 | 产品类别 | 切割设备 |
普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎，经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升级，确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统，包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡，并将持续研发投入，推出更多符合市场需求的功能模块板卡，在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。
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PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，支持10V，500mA直流/脉冲输出，小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。
产品特性
8个独立的源测量通道，支持并行测试
蕞大支持±10V，±500mA输出
单通道蕞大3W输出/吸收功率，8通道蕞大支持24W
蕞大电流电压分辨率低10pA/100μV
支持脉冲输出，脉宽低100μs，占空比0~100%可调
蕞高支持1MS/s采样率，适合高速信号采集和动态测试
支持0.001~10 NPLC积分时间设置，兼顾高速及高精度测量
支持连续、sweep、序列等多种工作模式
支持8通道外同步触发，极性及占空比可调
支持2线、4线测量，具备Guard输出保护
支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码
应用范围
半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器、硅光器件特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试
武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、脉冲恒流源、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多分立器件WAT多通道测试PXIe插卡式源表信息，欢迎随时咨询普赛斯仪表！
中商贸易网供应商武汉普赛斯仪表有限公司供应分立器件WAT多通道测试PXIe插卡式源表，为您提供详细的产品报价、参数、图片等商品信息，如需进一步了解，请与厂家直接联系。
产品信息网址：http://coai.net/productdetail/4446.html
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